日本三级理论一区二区三区|成人18禁精品一区二区三区|性色av乱码一区二区三区久久|中文字av字幕在线观看

當前位置:技術支持>激光粒度儀的測量原理,對激光粒度儀的技術發(fā)展包括光路系統(tǒng)的設計與優(yōu)化 技術文章

激光粒度儀的測量原理,對激光粒度儀的技術發(fā)展包括光路系統(tǒng)的設計與優(yōu)化

點擊次數:1493  更新時間:2021-04-13
 激光粒度儀是一種應用廣泛的粒度測量儀器。本文介紹了激光粒度儀的測量原理,對激光粒度儀的技術發(fā)展包括光路系統(tǒng)的設計與優(yōu)化、探測器及其他方面的改進作了概述。儀器的光學結構對其性能具有決定性的影響,光學結構的優(yōu)化主要是為了擴展儀器的測量下限;采用不同的探測器則可以保證儀器的高重現(xiàn)性和全量程的高分辨率。文章最后展望了激光粒度儀的發(fā)展方向。
 
科學研究和工農業(yè)生產中的固體原料和制品,很多都是納米粒度儀的結構如圖1所示。以粉體形態(tài)存在的,顆粒粒度分布對這些產品的質量和性能起 著重要的作用。例如,催化劑的粒度對催化效果有著重要的影 響;水泥的粒度影響凝結時間及最終的強度;各種礦物填料的粒 度影響著制品的質量與性能;涂料的粒度會影晌涂飾效果和表 面光澤;藥物的粒度影響口感、吸收率和療效等等。因此,在粉 體加工與應用領域中,相應的顆粒粒度測量就顯得相當重要。 有效地測量與控制粉體的顆粒粒度及其分布,對提高產品質量、 降低能源消耗、控制環(huán)境污染、保護人類的健康等具有重要意 義。